广东艾思荔检测仪器有限公司

主营:东莞冷热冲击试验箱制作,东莞恒温恒湿试验箱生产,东莞三综合试验箱

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电容器三箱式冷热冲击试验箱

2023-10-21 02:39:01  1017次浏览 次浏览
价 格:199000

艾思荔电容器三箱式冷热冲击试验箱采用先进的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,完全有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。

电容器三箱式冷热冲击试验箱技术参数:

规格型号:TS-80

内箱尺寸:50*40*50cm

内箱材质 :SUS 304# 8K镜面不锈钢板。

实验箱冲击温度:高温 60~150℃

低温 A:(-10 ~ -40℃) B:( -10 ~ -55℃) D:( -10 ~ -65℃)

升温时间:60~200℃小于35分

降温时间:A:+20~-55℃小于75分 B:+20~-65℃小于80分 D:+20~-75℃小于90分。

外箱材质:特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢。

高温槽温度范围:+60 ~200℃。

低温槽温度范围:A:(-55 ~ -10℃)B:(-65 ~ -10℃)D:(-80 ~ -10℃)。

电容器三箱式冷热冲击试验箱特点:

先进科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的保护装置,避免了任何可能发生隐患,保证设备的长期可靠性

可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜。

出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。

96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;

箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。

可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。

运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

冷冻系统采用复迭低温回路系统设计,冷冻机组采用欧美原装进口压缩机,并采用对臭氧系数为零的绿色环保制冷剂R507,R23。

产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。

设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择:

纹路处理不锈钢表面,如经常顺着纹路擦拭,可使机器长时间保持崭新的外观(推荐此种选择)

特殊防锈处理钢板静电喷涂表面,质地好(依客户要求)

每个产品都根据客户的要求订做,保证了设备的节能,并在现场调试和验收,保证用户方的使用性能。

底座:角铁+槽钢。

电容器三箱式冷热冲击试验箱控制系统

采用塬装进口微彩色电脑液晶显示触控式莹幕直接按键型,中英文表示7。5"之广视角,高对比附可调背光功能,具96个试验规范可独力设定、储存记忆控制,并附多组PID控制功能,操作筒单,功能强大,程式编辑容易之大型LCD液晶显示专用控制器。

冷冻系统:复叠水冷式欧美塬装进口半密闭式或风冷式全封闭压缩机组。

保护装置:无熔丝过载探保护,压缩机过热, 过流, 超压, 加热干烧, 箱内超温警报系统。

可扩充性“可扩充液态氮快速低温冲击控制装置。

冲击恢复时间:高温(150℃)冲击30分钟。

低温:(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟。

冲击恢复时间:5分钟以内。

風門開啓時間:3秒已内

保温层:PU发泡。

标准配置:测试孔(¢50x1只), 试料架(2组) 。

电源:AC3¢5W380V50HZ。

详细规格以相应规格书为准。

满足标准:标GJB150.3-86;标GJB150.4-86;标GJB150.5-86;

电容器三箱式冷热冲击试验箱用途

又称为高低温冲击试验箱,用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

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